下图为“电容测厚传感器”系统的原理图。当被轧金属板材的厚度相对于要求值发生变化时,电容传感器的电容C发生变化。C的变化通过测量电路后.一方面由仪表读出板材厚度,另一方面通过反馈电路将偏差信号传送给压力调节器,使板材的厚度控制在规定的范围内。若仅改变电容器的正对面积S或板材厚度h,可使电容C增大的是
A. h减小 B. h 增大 C. S减小 D. S增大
科目:高中物理 来源: 题型:
A、S减小 | B、S增大 | C、h减小 | D、h增大 |
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科目:高中物理 来源:2011-2012学年贵州省高三物理复习测试:46光的本性(解析版) 题型:选择题
如图所示是用干涉法检查某块厚玻璃的上表面是否平的装置.a为标准样板,b为待测厚玻璃板,所用单色光是用普通光源加滤光片产生的,检查中所观察到的干涉条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加而成的( )
A.a的上表面和b的下表面
B.a的上、下表面
C.a的下表面和b的上表面
D.b的上、下表面
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科目:高中物理 来源: 题型:多选题
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科目:高中物理 来源:2011届湖北省武汉市高三4四月调研测试理科物理卷 题型:单选题
下图为“电容测厚传感器”系统的原理图。当被轧金属板材的厚度相对于要求值发生变化时,电容传感器的电容C发生变化。C的变化通过测量电路后.一方面由仪表读出板材厚度,另一方面通过反馈电路将偏差信号传送给压力调节器,使板材的厚度控制在规定的范围内。若仅改变电容器的正对面积S或板材厚度h,可使电容C增大的是
A.h减小 | B.h 增大 | C.S减小 | D.S增大 |
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