[题目]X.Y.W.Z 是四种常见短周期元素.其原子半径随原子序数变化如图所示.已知 W的一种核素的质量数为 18.中子数为 10.X 和Ne 原子的核外电子总数相差 1,Y 的单质是一种常见的半导体材料,Z 的非金属性在同周期主族元素中最强.下列说法正确的是A.最高化合价:X＞Y＞Z＞WB.简单气态氢化物的稳定性:Y＞WC.Y 的氧化物与 X.Z 的最高价氧题目和参考答案——青夏教育精英家教网—

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【题目】X、Y、W、Z 是四种常见短周期元素，其原子半径随原子序数变化如图所示。已知 W的一种核素的质量数为 18，中子数为 10，X 和Ne 原子的核外电子总数相差 1；Y 的单质是一种常见的半导体材料；Z 的非金属性在同周期主族元素中最强。下列说法正确的是

A.最高化合价：X＞Y＞Z＞W

B.简单气态氢化物的稳定性：Y＞W

C.Y 的氧化物与 X、Z 的最高价氧化物对应的水化物均能反应

D.由 X、Z、W 三种元素形成的化合物一定既含有离子键又含有共价键

【答案】D

【解析】

W的一种核素的质量数为18，中子数为10，则W为O元素；X 和Ne 原子的核外电子总数相差1，再参照图中X的原子半径，可确定X为Na元素；Y 的单质是一种常见的半导体材料，则Y为Si元素；Z 的非金属性在同周期主族元素中最强，参照Z的原子半径，则Z为Cl元素。

由以上分析可知，X、Y、W、Z分别为Na、Si、O、Cl元素。

A．Z(Cl)的最高化合价可达+7价，Y(Si)可达+4价，O一般不表现正价，Na显+1价，A不正确；

B．非金属性Si<O，则简单气态氢化物的稳定性：SiH4<H2O，B不正确；

C．Y 的氧化物为SiO2，与 Na的最高价氧化物对应的水化物NaOH能反应，但与HClO4不能反应，C不正确；

D．由 X、Z、W 三种元素形成的化合物可能为NaClO、NaClO2、NaClO3、NaClO4，都含有离子键和有共价键，D正确；

故选D。

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资料：

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② Co2+在 pH=9.4 时完全沉淀为 Co(OH)2

（1）实验中需要将 CoCl2·6H2O 晶体研细，其目的是：__________________。

（2）在加入浓氨水前先加入大量 NH4Cl溶液，请结合平衡原理解释原因______________________。

（3）在“氧化”过程中需水浴控温在 50～60℃，温度不能过高，原因是______________________。

（4）写出“氧化”过程中反应的离子方程式_______________。

（5）为测定产品中钴的含量，进行下列实验：

①称取样品 4.000 g 于烧瓶中，加水溶解，加入足量的 NaOH 溶液，加热至沸 15～20 min，将 [Co（NH3）6]Cl3 完全转化为 Co（OH）3，冷却后加入足量 KI 固体和 HCl 溶液，充分反应一段时间后，将烧瓶中的溶液全部转移至 250.00 mL 容量瓶中，加水定容，取其中 25.00 mL 试样加入到锥形瓶中；

②用 0.100 0 mol·L －1 Na2S2O3 标准溶液滴定，溶液变为浅黄色后，加入淀粉溶液作指示剂继续滴定至终点，重复 2 次实验，测得消耗 Na2S2O3 溶液的平均体积为 15.00 mL。（已知：2Co3＋＋2I－=2Co2＋＋I2 ，I2 ＋2S2O32－=2I－＋S4O62－）.通过计算确定该产品中钴的含量___________________。