分析 (1)记“该集成电路不正常工作”为事件A,利用对立事件概率计算公式能求出该集成电路不能正常工作的概率.
(2)由已知,可知X的取值为-320,-200,-80,40,160,分别求出相应的概率,由此能求出X的分布列和EX.
解答 解:(1)记“该集成电路不正常工作”为事件A,
则P(A)=1-(1-$\frac{1}{6}$)×(1-$\frac{1}{10}$)=$\frac{1}{4}$,
∴该集成电路不能正常工作的概率为$\frac{1}{4}$.
(2)由已知,可知X的取值为-320,-200,-80,40,160,
P(X=-320)=($\frac{1}{4}$)2=$\frac{1}{256}$,
P(X=-200)=${C}_{4}^{1}(\frac{1}{4})^{3}(\frac{3}{4})=\frac{3}{64}$,
P(X=-80)=${C}_{4}^{2}(\frac{1}{4})^{2}(\frac{3}{4})^{2}$=$\frac{27}{128}$,
P(X=40)=${C}_{4}^{3}(\frac{1}{4})(\frac{3}{4})^{3}$=$\frac{27}{64}$,
P(X=160)=($\frac{3}{4}$)4=$\frac{81}{256}$,
∴X的分布列为:
| X | -320 | -200 | -80 | 40 | 160 |
| P | $\frac{1}{256}$ | $\frac{3}{64}$ | $\frac{27}{128}$ | $\frac{27}{64}$ | $\frac{8}{1256}$ |
点评 本题考查概率的求法,考查离散型随机变量的分布列和数学期望的求法,是中档题,解题时要认真审题,注意排列组合知识的合理运用.
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| A. | {3} | B. | {2} | C. | {3,2} | D. | {-2,3} |
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